Крепление кристалла
Крепление кристалла (die bonding) — прикрепление кристалла к подложке. [ГОСТР МЭК 60194-2—2019. Платы печатные. Проектирование, изготовление и монтаж. Термины и определения]
Крепление кристалла (die bonding) — прикрепление кристалла к подложке. [ГОСТР МЭК 60194-2—2019. Платы печатные. Проектирование, изготовление и монтаж. Термины и определения]
Кристалл бескорпусный (die device) — кристалл без корпуса, с соединительными структурами, или без них, или минимально упакованный кристалл микросхемы. [ГОСТР МЭК 60194-2—2019. Платы печатные. Проектирование,
Испытание на принудительный отказ (burn-in) — процесс электрического испытания устройства при повышенной температуре в течение достаточного количества времени, чтобы вызвать отказ элементов, находящихся на границе
Кристалл с контактными элементами (bumped die) — полупроводниковый кристалл с выступающими металлическими элементами для обеспечения межсоединений. [ГОСТР МЭК 60194-2—2019. Платы печатные. Проектирование, изготовление и монтаж.
Упаковка россыпью (bulk packaging) — способ упаковки отдельных деталей в пакет или контейнер. [ГОСТР МЭК 60194-2—2019. Платы печатные. Проектирование, изготовление и монтаж. Термины и определения]
Нить у ткани (bow, warp) — поперечная нить, которая лежит по ширине ткани. [ГОСТР МЭК 60194-2—2019. Платы печатные. Проектирование, изготовление и монтаж. Термины и определения]
Микропровод монтажный (bonding wire) — золотой или алюминиевый провод, используемый для изготовления электрических соединений между контактными площадками на кристалле и выводной рамкой или выводами корпуса.
Площадки на кристалле микросхемы контактные (bonding pad) —области металлизации на кристалле интегральной микросхемы, используемые для присоединения тонких проволок или схемных элементов к кристаллу. [ГОСТ Р
Прочность сцепления (bond strength, pull strength): сила, перпендикулярная к поверхности платы, необходимая для разделения двух смежных слоев платы. П р и м е ч а
Место компонента, посадочное (component mounting site) — участок на печатной плате, который состоит из контактных площадок и проводников к дополнительным контактным площадкам для тестирования или