Реестровая запись: ЭЛ № ФС77-79395 от 02.11.2020 ISSN: 2782-1528 DOI 10.34660/c0727-6092-6372-a
Емкость информационная запоминающего устройства (Capacity) — наибольшее количество единиц данных, которое одновременно может храниться в запоминающем устройстве. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие. Термины
Доступ к данным ассоциативный (Associative access) — способ доступа к данным, позволяющий обращаться к ячейкам запоминающего устройства в соответствии с признаками хранимых в них данных.
Цикл обращения к запоминающему устройству (Access cycle) — минимальный интервал времени между двумя последовательными доступами к данным запоминающего устройства. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых вычислительных машин
Время выборки данных (Access time) — интервал времени между началом операции считывания и выдачей считанных данных из запоминающего устройства. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых вычислительных машин
Время хранения данных (Storage time) — интервал времени, в течение которого запоминающее устройство в заданном режиме сохраняет данные без регенерации. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых вычислительных
Скорость передачи данных из (в) запоминающего (ее) устройства(о) (Data transfer speed) — количество данных, считываемых (записываемых) запоминающим устройством в единицу времени. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых
Считывание данных (Read) режим работы запоминающего устройства, в процессе которого осуществляется получение данных из запоминающего устройства. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие. Термины и
Тест «Тяжелый код» контроля запоминающего устройства — статический тест контроля запоминающего устройства, позволяющий получить максимальный сигнал помехи считанного нуля. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых вычислительных машин
Тест «Дождь» контроля запоминающего устройства — динамический тест контроля запоминающего устройства, в котором записываемая информация определяется состоянием двоичного счетчика считанных единиц. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых
Тест контроля запоминающего устройства, динамический (Dynamic test) — режим проверки запоминающего устройства, при котором записываемые данные с каждым циклом обращения меняются. [ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых