Тест контроля запоминающего устройства, динамический (Dynamic test) — режим проверки запоминающего устройства, при котором записываемые данные с каждым циклом обращения меняются.
[ГОСТ 25492-82. Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие. Термины и определения]